Stage : Caractérisation du vieillissement de détecteurs Tomographie RX F/H

L'utilisation répétée en production pour le contrôle de pièces composites de Tomographes à rayons X engendre la dégradation progressive des différents composants du système.
Ainsi, les détecteurs sont particulièrement soumis à des contraintes d'exploitation drastiques qui nécessitent leur remplacement régulier.

L'objectif de ce stage est d'expertises différents détecteurs RX mis au rebut par les usines suite à vieillissement jugé trop important. Il s'agira alors de caractériser ces détecteurs pour :
- mieux comprendre la constitution des différents équipements et des composants affectés par l'utilisation répétée
- appréhender des métriques de vieillissements des différents constituants (photodiode, scintillateur, ...)

Ingénieur électronique, caractérisation de composants, CND